HL-940

自动化Memory芯片测试系统

内装4组ICT-384测试模组,可提供高达32 x 4 128座芯片进行平行测试

特别适合高容量NOR / NAND FLASH 或 Serial FLASH等测试时间较长之记忆体

 
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主要功能

    高智能操作方式
在常温下,透过强大的软体控制,按照既定步骤完成装载/ 定位/ 测试/ 分类/ 卸载等一连串的自动化取放操作.

    自动对位
动用两具精确的CCD执行自动对位功能,固定式朝上的一具CCD供测试IC位置校准之用而另一具装载式朝下的CCD则供IC取放点及测试座位址标定之用

   多座平行测试
共4组的ICT-384测试模组提供高达128座的平行测试.

   高产量
每次抓取4颗并循序置放,让测试产能提高到大约1,200 UPH (当每颗测试时间< 6分钟时).

   操作介面功能强大
设定参数及测试结果将自动储存以供下次开机操作或品管及良率追踪分析之用,图形化操作介面让使用者容易上手.

 

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