HL-730A IC料帶光學檢驗系統
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HL-730A IC料帶光學檢驗系統
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HL-730A IC料帶光學檢驗機是一專用於IC料帶封裝的自動外觀檢測機台。系統藉由優異的圖形化介面軟體,提供性能卓越、快速且穩定的袋內IC與料帶封合的外觀檢測功能。檢驗項目包括袋內IC方向、打點、字碼、PVI、歪腳外,亦可檢驗空料、疊料、翻料與料帶封合品質等項目,是確保IC料帶封裝品質之最佳利器。
強大且穩定的檢驗能力
利用性能卓越的影像處理系統,針對各個檢驗項目做最佳化處理,大幅縮短影像處理時間,提供高速且品質穩定的檢驗能力。
高效產能
UPH可達40K,8mm以下之IC料袋間距可達每小時40000顆的檢驗速度。
強大的軟體功能
簡易的使用者操作介面。
儲存所有設定參數,下次開機不需重新認記。
儲存檢驗結果並產生統計報表,易於追蹤、分析、改善良率與品質。
智慧型的操作
彈性化的檢驗流程設定。可選擇以下兩種模式:
適用多種尺寸料帶
適用料帶寬度範圍8mm ~ 44mm (25mm以上料帶須更換光學模組)。
視覺系統
產出效能
IC檢測項目
進出料裝置
控制系統
電壓 / 空壓
外觀尺寸
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